CDE Testsysteme

Das CDE Testsystem ermöglicht automatisiertes und reproduzierbares Testen von embedded Systemen. Durch die perfekte Kombination von Hardware und Software kann das CDE Testsystem reale Hardware und virtuelle Komponenten (Simulationsmodell) verbinden. Dies erlaubt die vollständige Durchführung von Systemtests zu jedem Zeitpunkt – also auch bereits in der Entwicklungsphase von Teilkomponenten. Teilkomponenten (Sensoren und Aktoren) können mittels HIL-Simulation an das bestehende System angeschlossen werden. Die CDE Testsystem Hardware stellt dazu verschiedenste Schnittstellen zur Verfügung.

HIL steht für Hardware-in-the-Loop und beschreibt ein Verfahren zur gezielten und reproduzierbaren Simulation von einzelnen Komponenten eines Gesamtsystems. Dadurch kann u.a. getestet werden, wie sich die Applikationssoftware verhält, wenn ein (virtueller) Sensor fehlerhafte Messwerte liefert. Der Vorteil einer HIL-Simulation ist, dass Zustände simuliert werden können, welche in realen Umgebungen nicht oder nur sporadisch auftreten. Dadurch kann die Anwendung im Labor vollständig getestet werden.

• Automatisiertes, reproduzierbares und vollständiges Testen von Automotive-Steuergeräten durch Simulation von Sensoren oder anderer Steuergeräte
• Simulation von Drucksensoren und Magnetventilen zum automatisierten Test eines hoch-kritischen Medizinprodukts mit Ballonkatheter
• Simulation von Fehlern zur Verifikation des Systemverhaltens bei kritischen Produkten

• Verbesserung der Testqualität durch reproduzierbare Testabläufe
• Höhere Software-Update-Zyklen durch automatisiertes Testen
• Automatisierte Erstellung der Testdokumentation
• Integration von Simulationsmodellen
• Gezielte Simulation oder Manipulation von Sensorwerten in Echtzeit (z.B. über SPI, CAN, I2C) zum Test des Systemverhaltens
• Kundenspezifische Schnittstellen und Steckverbindungen
• Effizienzsteigerung bei Integrations- und Systemtests